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HK: Hadronen und Kerne
HK 19: Strahlungsphysik
HK 19.3: Vortrag
Montag, 24. März 1997, 17:30–17:45, HS L
Polarisation parametrischer Röntgenstrahlung — •V.V. Morokhovskii1, J. Freudenberger1, H. Genz1, R. Kotthaus2, V.L. Morokhovskii3, A. Richter1, M. Rzepka2, K.H. Schmidt2 und P.M. Weinmann2 — 1Institut für Kernphysik, TH-Darmstadt, Schloßgartenstr. 9, D-64289 Darmstadt — 2Max-Plank-Institut für Physik Föhringer Ring 6, D - 80805 München — 3Kharkov Institute of Physics and Technology, 310108 Kharkov, Ukraine
Die Polarisation parametrischer Röntgenstrahlung (PXR) wurde am S-DALINAC
experimentell und theoretisch untersucht. PXR wurde an
einem
13 µm Silizium Kristall mit einem 80 MeV
Elektronenstrahl erzeugt und unter 20 ∘
mit einer CCD Kamera detektiert.
Der Polarisationsgrad ergab sich zu Werten bis zu 80%.
Die Parametrische Röntgenstrahlung ist linear polarisiert. Im idealen Fall
sollte der Polarisationsgrad 100% betragen. Rechnungen ergeben, daß
im wesentlichen Elektronenstrahleigenschaften, aber auch
Elektronen-Vielfachstreuung im Kristall, die Mosaik-Struktur des Kristalls
sowie der Detektor Raumwinkel den Polarisationsgrad vermindern.
Die Ergebnisse einer Monte-Carlo
Simulation und einer analytische Methode zeigen unabhängig voneinanderer
gute Übereinstimmung mit dem experimentellen Resultat sowohl für die
Polarisationsrichtung als auch für den Polarisationsgrad.
Unterstützt durch Gottlieb Daimler- und Karl Benz-Stiftung, das BMBF unter
der Vertragsnummer 06DA665I, die DFG unter der Vertragsnummer 436UKR113-19,
sowie die International Science Foundation mittels Zuschuß UA3200.