Mainz 1997 – scientific programme

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K: Kurzzeitphysik

K 3: Kurzzeitdiagnostik, elektrische und optische Verfahren

K 3.1: Talk

Monday, March 3, 1997, 16:00–16:15, RW 2

Kurzzeit-Photoemissions-Elektronenmikroskop — •M. Weingärtner und O. Bostanjoglo — Optisches Institut, TU Berlin, Straße des 17. Juni 135, 10623 Berlin

Die Photoemissions-Elektronenmikroskopie (PEEM) ist eine empfindliche oberflächensensitive Untersuchungsmethode. Durch die besondere Kontrastentstehung können dabei Strukturen aufgelöst werden, die bei anderen Methoden (z. B. Rasterelektronenmikroskop, Nomarskimikroskop) verborgen bleiben. Jedoch lag die Zeitauflösung bisher im Bereich von einigen Millisekunden. Hier wird nun erstmals ein PEEM mit einer Zeitauflösung von 4ns vorgestellt. Die Elektronen werden hierbei durch einen Excimer-Laserpuls ausgelöst. Damit wurden auf Aluminiumoberflächen laserinduzierte Prozesse nahe der Schwellenenergie untersucht. Die Bearbeitung erfolgte mit einem frequenzverdoppelten Nd:YAG Laser. Prozesse wie Entstehung einer Schmelze, Rekristallisation und Entfernung der Oxidhaut von der Oberfläche können dabei zeitafgelöst beobachtet werden.
Diese Arbeit wird gefördert von der Deutschen Forschungsgemeinschaft (DFG).