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K: Kurzzeitphysik
K 3: Kurzzeitdiagnostik, elektrische und optische Verfahren
K 3.1: Talk
Monday, March 3, 1997, 16:00–16:15, RW 2
Kurzzeit-Photoemissions-Elektronenmikroskop — •M. Weingärtner und O. Bostanjoglo — Optisches Institut, TU Berlin, Straße des 17. Juni 135, 10623 Berlin
Die Photoemissions-Elektronenmikroskopie (PEEM) ist eine empfindliche
oberflächensensitive Untersuchungsmethode. Durch die besondere
Kontrastentstehung können dabei Strukturen aufgelöst werden, die bei anderen
Methoden (z. B. Rasterelektronenmikroskop, Nomarskimikroskop) verborgen
bleiben. Jedoch lag die Zeitauflösung bisher im Bereich von einigen
Millisekunden. Hier wird nun erstmals ein PEEM mit einer Zeitauflösung von
4ns vorgestellt. Die Elektronen werden hierbei durch einen Excimer-Laserpuls
ausgelöst. Damit wurden auf Aluminiumoberflächen laserinduzierte Prozesse
nahe der Schwellenenergie untersucht. Die Bearbeitung erfolgte mit einem
frequenzverdoppelten Nd:YAG Laser. Prozesse wie Entstehung einer Schmelze,
Rekristallisation und Entfernung der Oxidhaut von der Oberfläche können
dabei zeitafgelöst beobachtet werden.
Diese Arbeit wird gefördert von der Deutschen Forschungsgemeinschaft (DFG).