Mainz 1997 – wissenschaftliches Programm

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K: Kurzzeitphysik

K 3: Kurzzeitdiagnostik, elektrische und optische Verfahren

K 3.7: Vortrag

Montag, 3. März 1997, 17:30–17:45, RW 2

Kurzzeituntersuchungen mit der HSFC an Plasmen gepulster Entladungen — •T. Witke, T. Schülke und P. Siemroth — Fraunhofer Institut für Werkstoffphysik und Schichttechnologie, Winterbergstr. 28, D 01277 Dresden

Mit der High Speed Framing Camera (HSFC) steht ein Hochgeschwin- digkeits-Kamerasystem zur Verfügung, welches eine Ortsauflösung von 10 µm (Beobachtungsabstand von 0,6 ...1,5 m) bei einer minimalen Belichtungszeit von 5 ns gestattet. Weiterhin können durch den Einsatz von Filtern Bilder mit einer spektralen Auf- lösung bis zu 10 nm aufgenommen werden. Die hohe Orts-, Zeit- und spektrale Auflösung gestattet es, mikroskopische Details schnellablaufender Prozesse zu untersuchen, die sich bisher einer direkten Beobachtung entzogen. Das Beobachtungsobjekt wird über ein Fernmikroskop mit nachfolgendem Strahlteiler auf vier optisch identische unabhängige MCP-Bildverstärker mit nachgeschalteten CCD-Kameras abgebildet. Anhand von Einsatzbeispielen aus der Plasmaphysik (Materialabtrag bei gepulsten elektrischen Entla- dungen. Dynamik von elektrischen Entladungen in Gasen) werden potentielle Einsatzbereiche der Kamera (Verbrennungsvorgänge, Elektrische Entladungen, Schweißvorgänge, Laser-Material- bearbeitung) diskutiert.