Mainz 1997 – scientific programme

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MS: Massenspektrometrie

MS 4: MS-Entwicklungen und Verfahren

MS 4.5: Talk

Tuesday, March 4, 1997, 15:30–15:45, HS 21

Neue Ergebnisse "uber die absoluten Nachweiswahrscheinlichkeiten von Mikrokanalplatten f"ur Ionen — •O. Pfau, B. Brehm, and M. Zimmer — Institut f"ur Atom- und Molek"ulphysik, Abt. Atomare Prozesse, Universit"at Hannover, Appelstra"se 2, D-30167 Hannover

Mikrokanalplatten werden immer h"aufiger in Nachweisanordnungen f"ur Photonen, neutrale und geladene Partikel eingesetzt, z. B. in Massenspektrometern oder Energieanalysatoren. Das absolute Nachweisverm"ogen von Mikrokanalplatten ist von besonderem Interesse, wenn Teilchenstr"ome in absoluten Einheiten ermittelt werden sollen oder wenn relative Intensit"aten unterschiedlicher Partikel miteinander verglichen werden sollen. In einer Reihe von Arbeiten haben wir das absolute Nachweisverm"ogen von Mikrokanalplatten f"ur Ionen im (Aufprall-) Energiebereich von 0-4.5 keV mit Hilfe der Photoelektron-Photoion Koinzidenztechnik (PEPICO) bestimmt [1-3]. Die Abh"angigkeit des absoluten Nachweisverm"ogens und der Pulsh"ohenverteilungen von der Auftreffenergie und des Auftreffwinkels unterschiedlicher Ionen auf verschiedene Mikrokanalplatten wird vorgestellt.

[1] B. Brehm, J. Gro"ser, T. Ruscheinski, M. Zimmer Verhandl. DPG(VI) 28, MS6.6 (1993)

[2] B. Brehm, J. Gro"ser, T. Ruscheinski, M. Zimmer Meas. Sci. Technol. 6, 953 (1995)

[3] B. Brehm, J. Gro"ser, J. Oberheide, P. Wilhelms, M. Zimmer Verhandl. DPG(VI) 31, MS8.3 (1996)