Mainz 1997 – wissenschaftliches Programm

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P: Plasmaphysik

P 21: Dichte Plasmen IV

P 21.2: Vortrag

Mittwoch, 5. März 1997, 16:30–16:45, P 204

Absolutmessung der spektralen Brillianz einer Subpikosekunden-UV-laserinduzierten Röngtenquelle — •R. Häßner¹, W. Theobald¹, R. Sauerbrey¹, D. Altenbernd², U. Teubner², E. Förster², B. Niemann³, T. Wilhein³ und G. Schmahl³ — ¹Institut für Optik und Quantenelektronik der Universität Jena, Max-Wien-Platz 1, 07743 Jena — ²Max-Planck-Arbeitsgruppe Röntgenoptik an der Friedrich-Schiller-Universität Jena, Max-Wien-Platz 1, 07743 Jena — ³Forschungseinrichtung Röntgenphysik, George-August-Universität Göttingen, Geiststr. 11, 37077 Göttingen

Die spektrale Brillianz eines Subpikosekunden-KrF-laserpulserzeugten Plasmas (20mJ, 0.7ps, 248.5nm) wurde in Hinblick auf die Anwendung als Quelle für die Röntgenmikroskopie untersucht.

Die weiche Röntgenstrahlung von Kohlenstoff- und Bornitrit-Targets wurde mit einem neuartigen, absolut kalibrierten Röntgenspektrographen mit einer Auflösung von λ / Δ λ ≥ 300 bei 2.4nm gemessen. Die Abbildungsoptik und das dispersive Element sind in einer einzelnen, elliptischen off-axis Reflexionszonenplatte vereinigt. Zusätzlich wurde noch ein Transmissionsgitter-Spektrograph für den weichen Röntgenbereich zur Messung verwendet. Die Kohlenstoffspektren des Zonenplattenspektrographen zeigen die Heα (4.03nm), Heβ (3.50nm), Lyα (3.37nm), Lyβ (2.85nm) und Lyγ (2.70nm) zusammen mit Kontinuumsstrahlung. Eine Photonenzahl von 1.8×10¹¹ (Lyα) und 1.3×10¹¹ (Heα) konnte pro Laserschuß und Steradian gemessen werden.