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Q: Quantenoptik

Q 40: Laserspektroskopie III

Q 40.2: Vortrag

Donnerstag, 6. März 1997, 14:15–14:30, N 6

MIR-Differenz-Frequenz-Spektrometer mit zwei Diodenlasern und ihre Anwendung in Spektroskopie und Spurengasnachweis — •T. Kelz, M. Nägele, I. Meusel, D. Rehle, B. Sumpf und H.-D. Kronfeldt — Optisches Institut, Sekr. PN 0-1, Technische Universität Berlin, Hardenbergstr. 36, 10623 Berlin

Für spektroskopische Untersuchungen umweltrelevanter Gase und deren Nachweis ist das Spektralgebiet im mittleren Infraroten im Bereich atmosphärischer Fenster um 4.7 µm bzw. 8 - 10 µm aufgrund starker Absorptionsbanden der zu untersuchenden Gase interessant. Bislang für diesen Spektralbereich bekannte Lichtquellen (Bleisalz-, CO-, CO₂-Laser) benötigen meist Kryokühlung und sind nicht portabel. Halbleiterlaser ohne den Nachteil der Kryokühlung, die klein, billig und flexibel einsetzbar sind, sind für diesen Spektralbereich physikalisch schwer realisierbar. Eine Möglichkeit, die Vorteile von Halbleiterlasern zur Generierung von Infrarotstrahlung zu nutzen ist die Anwendung von nichtlinearen Prozessen, wie der Differenz-Frequenz-Generierung. In diesem Beitrag wird die Anwendung von zwei Differenz-Frequenz-Spektrometern mit zwei Diodenlasern als Lichtquellen und AgGaS₂ bzw. AgGaSe₂ als nichtlinearem Kristall und ihrer spektroskopischen Anwendung u.a. am Beispiel umfangreicher Untersuchungen an CO vorgestellt.
B. S. dankt der Deutschen Forschungsgemeinschaft für ein Stipendium.
Das Projekt wird durch das Bundesministerium für Bildung und Forschung unterstützt.