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AM: Magnetismus
AM 19: Magnetowiderstand I
AM 19.2: Talk
Thursday, March 20, 1997, 11:00–11:15, F4
Struktur und magnetoresistive Eigenschaften von La–Manganit–Schichten — •E. Gommert1,2, H. Cerva3, A. Rucki3, R. v. Helmholt1, C. Kuhrt1 und K. Samwer2 — 1Siemens AG, Erlangen — 2Universität Augsburg, Institut für Physik, 86135 Augsburg — 3Siemens AG, München
Manganoxid–Schichten mit Perowskit–Struktur haben in den letzten Jahren Aufmerksamkeit erregt wegen ihrer „colossal magnetoresistance“ (CMR) Eigenschaften verbunden mit einem Isolator–Metall–Übergang im äußeren Magnetfeld. Hier werden der Einfluß der Mikrostruktur von La1−x(Ca, Sr)xMnO3−δ–Schichten auf die elektrischen Eigenschaften vorgestellt. Die Schichten werden mittels der Laserdepositionsmethode in „on–axis“ und „off–axis“ Geometrie hergestellt. Das epitaktische Wachstum auf SrTiO3 wurde exemplarisch mit TEM und HRTEM nachgewiesen. Eine Ausbildung von Defektstrukturen wird sichtbar, die bis zum Riß in der Schicht führen kann. Entsprechend variieren die Transporteigenschaften der so hergestellten Filme. Darüberhinaus wird auch der Einfluß des Sauerstoffgehaltes diskutiert, auch wenn die Bestimmung der genauen Konzentration in den Schichten schwierig ist.
Gefördert durch BMBF–VDI–TZ, Förderkennzeichen 13N6174