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AM: Magnetismus

AM 8: Dauermagnetische Werkstoffe, intermetallische nanokristalline Verbindungen

AM 8.7: Vortrag

Dienstag, 18. März 1997, 11:45–12:00, F4

Lorentzmikroskopie an SmFeTi - und Nd17Fe78Cu5B5 - Hartmagneten mittels Photoemissionselektronenmikroskopie (PEEM) — •G. K. L. Marx, M. D. v. Przychowski und G. Schönhense — Institut für Physik, Johannes Gutenberg-Universität Mainz, D-55099 Mainz

Durch die Anregung der Elektronenemission durch UV-Licht ist die kinetische Energie der emittierten Elektronen an der Oberfläche sehr gering (E < 1 eV) und damit sehr empfindlich gegenüber oberflächennahen magnetischen Streufeldern. Durch die Überlagerung eines magnetischen Streufeldes mit dem elektrostatischen Feld zwischen Probe und Extraktorelektrode der elektrostatischen Objektivlinse kann durch geschickte Wahl der Feldstärke und der Kontrastblende die “in-plane“-Magnetisierung der einzelnen Domänen abgebildet werden. Ein Vergleich mit Kerr - Mikroskopaufnahmen zeigt, daß das longitudinale Streufeld die Abbildung ermöglicht. Außerdem können verschiedene stöchiometrische Phasen durch ihre unterschiedlichen Austrittsarbeiten detektiert werden. Ein Vergleich der Aufnahmen mit EDX - Messungen konnte die Vermutung von verschiedenen Phasen bestätigen. Erste numerische Berechnungen geben Aufschluß über die Größe und Reichweite der magnetischen Streufelder. Der Kontrasttyp ist in seiner Entstehung vergleichbar mit dem wohlbekannten Kontrasttyp I, der in der Rasterelektronenmikroskopie zur Abbildung von magnetischen Domänen verwandt wird.

Gefördert durch den SFB262