Münster 1997 – scientific programme
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DF: Dielektrische Festkörper
DF 4: Gläser
Tuesday, March 18, 1997, 15:20–16:20, R2
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15:20 | DF 4.1 | Zeit- und Geschwindigkeitsabh"angigkeit der Deformation im Mikro- und Nanometerbereich — •S. Mosch, H. Meinhard, and P. Grau |
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15:40 | DF 4.2 | XPS-Studien an Ca-Mg-Al-Si-O-N Oxynitridgläsern — •M. Schneider, V. A. Gasparov und W. Richter |
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16:00 | DF 4.3 | Ermittlung von Größe und Konzentration submikroskopischer Kupferpartikel in Gläsern mittels Spektralellipsometrie — •S. KÜRBITZ, J. PORSTENDORFER und K.-J. BERG |