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Münster 1997 – scientific programme

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DS: Dünne Schichten

DS 11: Charakterisierungsverfahren II

Monday, March 17, 1997, 16:30–17:15, H 55

16:30 DS 11.1 X-ray standing waves in epitaxial H-Tc thin films — •A. Kazimirov, J. Zegenhagen, T. Haage, L. Ortega, A. Stierle, and F. Comin
16:45 DS 11.2 Untersuchung von Bi-δ-Schichten auf Si(001) mit stehenden Röntgenwellenfeldern und Röntgenbeugung — •O. Mielmann, J. Falta, C. Sánchez-Hanke, Th. Schmidt, M. Kammler, F. Meyer zu Heringdorf, M. Horn-von Hoegen, M Copel und G. Materlik
17:00 DS 11.3 Röntgenbeugung an vergrabenen Ge-Mikrofacetten auf Si(001) — •J. Falta, D. Bahr, G. Materlik, M. Kammler und M. Horn-von Hoegen
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