Münster 1997 – wissenschaftliches Programm
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DS: Dünne Schichten
DS 16: Multilayer
DS 16.4: Vortrag
Dienstag, 18. März 1997, 12:30–12:45, H 55
Thermisch aktivierte Gestaltinstabilität von Nb/Cu-Multilagenpaketen — •P. Troche1, J. Hoffmann1, K. Heinemann1, G. Schmitz1, D. Rudolph2 und H.C. Freyhardt1 — 1Institut für Metallphysik, Universität Göttingen, Hospitalstraß 3-5, D-37073 Göttingen — 2Forschungseinrichtung Röntgenphysik, Geiststraße 11, D-37073 Göttingen
.
Die thermisch aktivierte Gestaltinstabilität von
Niobschichten in Nb/Cu-Multilagenpaketen führt zur Bildung von nanometergroßen
Niobpartikeln. Deren Bildung
aus den Multilagenpaketen und ihre Verteilung in der
Kupfermatrix wurden mit den Methoden der Röntgendiffraktometrie (XRD),
Röntgenmikroskopie (XRM) und Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
untersucht.
Aus Röntgenbeugungsuntersuchungen konnte die Einsatztemperatur dieser Desintegration zu 650 K bestimmt werden. Nach einem starken Anstieg der Nb-Partikelgröße
bei kleinen Zeiten, der um so schneller voranschreitet, je dünner die Nioblagen und
je höher die Temperatur ist, mündete das Partikelwachstum in ein logarithmisches
Zeitgesetz. Anhand von XRM-Aufnahmen ist ein Aufbrechen der Niobschichten in
ein Netzwerk zu erkennen, das zunächst aus ellipsoidförmigen Niobpartikeln
besteht, die mit zunehmender Auslagerungszeit kugelförmig werden.
Die Supraleitungseigenschaften dieser supralteitenden Partikel in der normal-
leitenden Kupfermatrix wurden resistiv gemessen.