Münster 1997 – wissenschaftliches Programm

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DS: Dünne Schichten

DS 22: Magnetische Schichten I

DS 22.1: Vortrag

Donnerstag, 20. März 1997, 10:15–10:30, PC 7

Magnetisierungsprozess in epitaktisch gewachsenem Cu/Ni/Cu/Si(001) — •B. Stiefel¹, H.J. Hug¹, G. Bochi², R.C. O’Handley², P. van Schendel¹, S. Martin¹ und H.-J. Güntherodt¹ — ¹Institut für Physik, Universität Basel, Klingelbergstr. 82, CH-4056 Basel — ²Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, MA 02139

Epitaktische Cu/Ni/Cu/Si(001) Filme zeigen eine senkrechte Anisotropie über einen ausserordentlich breiten Dickenbereich (20 Å≤ Ni ≤ 145 Å). Die mit dem Magnetokraftmikroskop (MFM) gemessene, unregelmässige Domänenstruktur zeigt eine mittlere Domänengrösse von mehreren Mikrometern, die jedoch mit zunehmender Ni-Filmdicke sinkt und ab 100 ÅNi-Dicke im unteren Submikrometerbereich liegt [1]. Das MFM wurde dazu benutzt den Magnetisierungsvorgang im externen Feld in situ zu messen. Wir diskutieren die folgenden Beobachtungen auf 75 ÅFilmen. In einem externen Feld von 105G gibt es innerhalb einer Domänenwand sowohl Stellen die sich zugunsten der externen Magnetisierungsrichtung verschieben, als auch solche die gepinnt sind. In höheren Feldern (≥185G) bilden sich stabile, eindimensionale Linien, die entlang der einfachen in-plane Achsen verlaufen. Wir erklären dieses Verhalten mit der lokalen Formierung von 360^∘ Domänenwänden. Schliesslich vergleichen wir M-H Kurven aus VSM- (Variable Sample Magnetometry) Messungen mit unseren MFM Daten.

[1] G. Bochi, H.J. Hug, D.I. Paul, B. Stiefel, A. Moser, I. Parashikov, H.-J. Güntherodt, and R.C.O’ Handley, Phys. Rev. Lett. 75, 1839 (1995)