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Münster 1997 – wissenschaftliches Programm

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DS: Dünne Schichten

DS 25: Magnetische Schichten II

DS 25.1: Vortrag

Donnerstag, 20. März 1997, 11:45–12:00, PC 7

Photoemissionsmikroskopie und Spektromikroskopie — •CH. Ziethen1, O. Schmidt1, G.H. Fecher1, G. Schönhense1, R. Frömter2, C.M. Schneider2, J. Kirschner2, K. Grzelakowski3 und W. Swiech41Johannes-Gutenberg-Universität, Institut für Physik, D-55099 Mainz — 2Max-Planck-Institut für Mikrostrukturphysik, Halle — 3FOCUS GmbH, Hünstetten — 4MRL, University of Illinois, Urbana

Unter Verwendung durchstimmbarer Röntgenstrahlung (BESSY, ESRF) wurde ein neuartiges Photoemissionselektronenmikroskop (FOCUS IS-PEEM) eingesetzt, um Elementverteilungen zu charakterisieren. Anhand von Beispielen (Fe3O4 auf MgO, Permalloy auf Si) wird gezeigt, wie damit Defekte in dünnen Schichten und Diffusionsvorgänge auf Oberflächen untersucht werden können. Eine weitergehende chemische Analyse der Probenoberfläche im µm-Bereich ist durch Aufnahme von Absorptionsspektren möglich (µ-XAS). Dabei findet ein integrierendes Videosystem Verwendung. In einem Ausblick wird gezeigt, welche Möglichkeiten sich hiermit bieten, magnetische Mikrostrukturen zu erforschen.

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