DS 26: Neue Charakterisierungsverfahren
Thursday, March 20, 1997, 15:15–16:45, PC 7
 |
15:15 |
DS 26.1 |
Neue Methoden der XPS-Oberflächenanalytik; TOF mit Pinchplasmen — •O. Treichel, G. Schriever, K. Bergmann und R. Lebert
|
|
|
|
15:30 |
DS 26.2 |
Röntgenfluorenszenzanalyse an leichten Elementen mit Pinchplasmen — •O. Treichel, K. Bergmann, G. Schriever und R. Lebert
|
|
|
|
15:45 |
DS 26.3 |
Quantifizierung der Laser-SNMS — •M. Wulff und A. Wucher
|
|
|
|
16:00 |
DS 26.4 |
Messung von mechanischen Spannungen in dünnen Schichten mit einer 2-Strahl-Lichtzeigerdetektion — •Matthias Bicker, Ulrich von Hülsen und Ulrich Geyer
|
|
|
|
16:15 |
DS 26.5 |
Rauhigkeit dünner Schichten mittels Rutherford Rückstreuung — •H. Metzner, M. Gossla, Th. Hahn, U. Geyer und J. Conrad
|
|
|
|
16:30 |
DS 26.6 |
Dynamik der Karbidbildung von Ti-Schichten auf Diamant - Phasenidentifikation mittels Maximum-Entropy Datenanalyse — •S. Miller, R. Fischer, H. Plank, J. Roth, and V. Dose
|
|
|
