Münster 1997 – scientific programme
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DS: Dünne Schichten
DS 32: Metallische Schichten II
DS 32.3: Talk
Friday, March 21, 1997, 12:15–12:30, H 55
STM-Untersuchungen zur Rauhigkeitentwicklung amorpher
ZrAlCu–Aufdampfschichten — •B. Reinker, S. Mayr, M. Moske und K. Samwer — Universität Augsburg, Institut für Physik, 86135 Augsburg
Die Morphologie amorpher ZrAlCu–Aufdampfschichten ist
schichtdickenabhängig mit einem UHV–STM untersucht worden.
Dabei wurden die Schichten auf arteigenes Material aufgedampft, welches
zuvor oberhalb der Glastemperatur relaxiert wurde [1].
Das Wachstum der amorphen Schichten mit einer charakteristischen
Hügelstruktur ist in Form einer Bildsequenz dokumentiert.
Aus den Bilddaten wurden die Höhen–Höhen–Korrelationsfunktionen
numerisch bestimmt.
Für kleine Schichtdicken (d < 30nm) zeigt die Entwicklung der Oberfläche
ein dynamisches Skalenverhalten mit einem Wachstumsexponenten β ≈
0.2. Oberhalb einer Schichtdicke von d = 30nm wird eine starke
Aufrauhung der Oberfläche beobachtet, wobei sich in lateraler
Richtung eine chakteristische Größe der Oberflächenstrukturen
stabilisiert. Die Ergebnisse werden im Zusammenhang mit dem
Wachstumsmodell von Wolf und Villain [2] diskutiert.
[1] B. Reinker, H. Geisler, M. Moske und K. Samwer, Thin Solid Films, 275 (1996), 240
[2] D.E. Wolf und J. Villain, Europhys. Lett., 13 (1990), 389