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DS: Dünne Schichten

DS 33: Postersitzung

DS 33.19: Poster

Dienstag, 18. März 1997, 16:15–17:45, Aula

Optische Untersuchung dünner Coronen Schichten auf Quarzglas und Si(111) Oberflächen — •U. Beckers, S. Wilbrandt, O. Stenzel und C. von Borcyskowski — Institut für Physik, Technische Universität Chemnitz-Zwickau, D-09107 Chemnitz

Schwerpunkt der hier vorgestellten Untersuchungen sind Coronen Schichten vom Submonolagenbereich bis zu wenigen Nanometern Schichtdicke. Die Herstellung der Schichten erfolgte durch thermisches Verdampfen in einer UHV-Anlage. Die Ordnung dieser Schichten wurde insitu mit LEED untersucht. Ergänzend wurden die optischen Konstanten durch Transmissions- und Reflexionsmessungen der Schichten auf Quarzglas untersucht. Des weiteren wurden Reflexionsmessungen von Coronen auf Si durchgeführt. Durch den Vergleich der Spektren wurde der Einfluß des Substrates auf die Schicht untersucht.