Münster 1997 – wissenschaftliches Programm

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DS: Dünne Schichten

DS 33: Postersitzung

DS 33.25: Poster

Dienstag, 18. März 1997, 16:15–17:45, Aula

Planare Paarverteilungsfunktion: Eine Methode zur Untersuchung der Struktur und inneren Grenzflächen von Viellagenschichten — •W. Attenberger, W. Brunner, R. Scherschlicht, J. Zweck und H. Hoffmann — Institut für Experimentelle und Angewandte Physik, Universität Regensburg,Universitätsstr. 31, D-93040 Regensburg

Die Eigenschaften von Viellagenschichten werden von der Struktur der Lagen und den inneren Grenzflächen bestimmt. Diese sind Untersuchungen nur schwer zugänglich, da die Probe meist präpariert werden muß, was die Gefahr von strukturellen Veränderungen der Probe mit sich bringt. Bei der hier vorgestellten Arbeit werden hochenergetische Elektronen (300 keV) an intakten Fe-Tb Viellagenschichten gebeugt, wobei der Strahl im Elektronenmikroskop so gekippt wird, so daß das Beugungsbild einen ebenen Schnitt des reziproken Raumes darstellt. Daraus wird die planare Paarverteilungsfunktion errechnet, die eine hochaufgelöste Abstandsverteilung aller zum Elektronenstrahl senkrechten Ebenen darstellt. Ein besonderer Vorteil dieser Methode ist es, daß eine Interpretation der Messergebnisse ohne fehlerträchtige Anpassung von Theoriekurven möglich ist. So kann sowohl gezeigt werden, daß auch bei dünnen Fe-Tb Viellagenschichten Eisen eine Textur zeigt, als auch Aussagen über die Durchmischungszonen getroffen werden.