Münster 1997 – scientific programme

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DS: Dünne Schichten

DS 33: Postersitzung

DS 33.26: Poster

Tuesday, March 18, 1997, 16:15–17:45, Aula

Untersuchung innerer Grenzflächen von Viellagenschichten auf atomarer Ebene mit zweidimensionalen Paarverteilungsfunktionen — •W. Brunner, W. Attenberger, R. Scherschlicht, J. Zweck und H. Hoffmann — Institut für Experimentelle und Angewandte Physik, Universität Regensburg, Universitätsstraße 31, D-93040 Regensburg

Vorgestellt wird ein zweidimensionales Meß- und Auswerteverfahren zur präparationsfreien Untersuchung der Durchmischung innerer Grenzflächen von Viellagenschichten. Es wird dabei die mittlere atomare Nahordnung in der zur Schichtebene parallelen Ebene bestimmt. Beschrieben wird diese Nahordnung durch sogenannte Paarverteilungsfunktionen die aus Streuintensitäten berechnet werden. Die Streuung hochenergetischer Elektronen (300 keV) ermöglicht eine näherungsweise planare Detektion der mittleren Nahordnung in der zum Elektronenstrahl senkrechten Ebene. Die Paarverteilungsfunktionen können ohne jegliche Kurvenanpassung interpretiert werden. Damit sind eindeutige Rückschlüsse auf die Durchmischung der Grenzflächen möglich (insbesondere im Vergleich mit Legierungsschichten). Als Beispiel werden die Ergebnisse einer Untersuchung von Eisen-Terbium-Viellagenschichten (Anwendung: magneto-optische Datenspeicher) gezeigt.