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DS: Dünne Schichten

DS 33: Postersitzung

DS 33.36: Poster

Dienstag, 18. März 1997, 16:15–17:45, Aula

Relativistische Effekte bei der Erzeugung von Elementverteilungsbildern mit dem Transmissionselektronenmikroskop — •R. Knippelmeyer und H. Kohl — Westfälische Wilhelms-Universität Münster, Physikalisches Institut, Wilhelm-Klemm-Str. 10, 48149 Münster

Die Kartierung von Elementverteilungen (Elemental Mapping) mit Hilfe unelastisch gestreuter Elektronen, die einen Energieverlust Δ E erlitten haben, gewinnt durch die Verbreitung von Transmissionelektronenmikroskopen mit abbildendem Energiefilter mehr und mehr an Bedeutung. Zur Auswertung der energiegefilterten Bilder ist ein exaktes Verständnis des Streu- und des Abbildungsvorgangs unerläßlich. Bei Bildsimulationen von energiegefilterten Abbildungen wurde bisher angenommen, daß relativistische Effekte, wie Retardierung und die magnetische Wechselwirkung, bei Abbildungen mit für die Elektronenmikroskopie üblichen Beschleunigungsspannungen (80 - 200 kV) keine große Rolle spielen. Die von uns im Rahmen der relativistischen Quantenmechanik in Dipolnäherung simulierten Abbildungen einzelner Atome zeigen jedoch auch im Bereich relativ niedriger Beschleunigungsspannungen zum Teil schon erhebliche Abweichungen zu entsprechenden Simulationen, bei denen relativistische Effekte unberücksichtigt blieben. Zu höheren Beschleunigungsspannungen hin werden diese Abweichungen noch wesentlich ausgeprägter.