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DS 33.1 |
Magnetoleitfähigkeit ultradünner Silberschichten auf Si(111) — •T. Lüer, J. Heitmann, H.-L. Günter und M. Henzler
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DS 33.2 |
Structural and Electrical Properties of Cathodic Sputtered Thin Chromium Films — •A.Ya. Vovk, A.K. Butilenko, and H.R. Khan
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DS 33.3 |
Akustische Untersuchungen von amorphen dünnen SiO2-Schichten und polykristallinen dünnen Goldschichten bei sehr tiefen Temperaturen — •E. Gaganidze, R. König, P. Esquinazi und K. Zimmer
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DS 33.4 |
Mechanische Eigenschaften von La/Fe-Vielfachschichten — •R. Buskühl, R. Hassdorf und W. Felsch
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DS 33.5 |
Untersuchung dünner Metall-Mischfilme mit dem optischen Nahfeldmikroskop — •J. Koglin, N. Hagedorn, U.C. Fischer und H. Fuchs
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DS 33.6 |
Untersuchungen zur Deformation und Wechselwirkung in dünnen flüssigkristallinen Filmen mittels der Oberflächenkraftapparatur — •Gudrun Mayer und Jörg Hauwede
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DS 33.7 |
Thermisch belastbare 3-Schicht-Systeme für Wärmefunktionsgläser — •H. Weis, P. Grosse, Th. Luyven, T. Müggenburg und H. Vonhoegen
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DS 33.8 |
Neue Materialien für thermisch belastbare Schichtsysteme zur Glasveredlung — •J. Schütt, P. Grosse, T. Luyven, T. Müggenburg und H. Vonhoegen
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DS 33.9 |
Epitaktische V2O3 Schichten: Ein Material für die Anwendung in Infrarotschaltern? — •S. Grigoriev, H. Schuler und S. Horn
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DS 33.10 |
Herstellung und Charakterisierung von Zn2.5In2−xSnxO6-Schichten für photovoltaische Anwendungen — •J.H. Schön, O. Schenker und E. Bucher
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DS 33.11 |
Optische Charakterisierung von SrTiO3-Dünnschichten für elektrotechnische Anwendungen — •W. Schaudig, W. Theiß, P. Grosse, S. Hoffmann und R. Waser
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DS 33.12 |
Finite-size effects in layered magnetic systems — •Dragi Karevski and Malte Henkel
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DS 33.13 |
Dichroismus und Kerr-Effekt an der Fe 2p-Schwelle von epitaktischem Magnetit — •D. Spanke, D. Knabben, R. Schellenberg, H. Ohldag, J.W. Chung, F.U. Hillebrecht, R.M. Jungblut und G. van der Laan
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DS 33.14 |
Untersuchung von Struktur und Stabilität ultradünner Fe(001)- Schichten mit CEMS und in situ-STM — •T. Richardsen, T. Schweinböck, K. Prügl, M. Brockmann, F. Bensch, M. Köhler und G. Bayreuther
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DS 33.15 |
Ferromagnetic Resonance on Electrodeposited Ni-Films — •J. Pflaum, E. Huebner, J. Pelzl, J.L. Bubendorff, J.P. Bucher, and Z. Frait
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DS 33.16 |
Elektronisches Quasiteilchenspektrum eines dünnen ferromagnetischen Films mit lokalisierten Momenten — •R. Schiller, W. Nolting und W. Müller
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DS 33.17 |
Röntgenstrukturuntersuchungen an granularen Cu/AgCo-Mul-
tilagen — •Y. Luo, A. Käufler, M. Moske, T. Lorenz und K. Samwer
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DS 33.18 |
Optische Emissionsspektroskopie während einer Plasmapolymerisation — •A. Kiesow und A. Heilmann
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DS 33.19 |
Optische Untersuchung dünner Coronen Schichten auf Quarzglas und Si(111) Oberflächen — •U. Beckers, S. Wilbrandt, O. Stenzel und C. von Borcyskowski
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DS 33.20 |
Gasphasen-Adsorption von selbstorganisierten Alkanthiolen auf Au(111): eine LEED Studie — •Rolf Gerlach, Georg Polanski und Horst-Günter Rubahn
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DS 33.21 |
Struktur und Wachstum von Cr und V auf Ru(0001) — •Manfred Albrecht, Helmut Wider, Jochen Köhler, Jörg Pohl, Ursula Malang, Klaus Friemelt und Ernst Bucher
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DS 33.22 |
Nanostrukturen aus bakteriellen Zellhüllenproteinen — •M. Mertig, R. Kirsch, W. Pompe und H. Engelhardt
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DS 33.23 |
Röntgenfeinstrukturuntersuchungen an gesputterten Molybdänschichten — •M. Löhmann, F. Klabunde, J. Bläsing, T. Hempel, P. Veit und T.P. Drüsedau
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DS 33.24 |
Elastik periodischer und quasiperiodischer Cu/V-Multilagen — •A. Frank, M. Bauer, C. Mathieu und B. Hillebrands
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DS 33.25 |
Planare Paarverteilungsfunktion: Eine Methode zur Untersuchung der Struktur und inneren Grenzflächen von Viellagenschichten — •W. Attenberger, W. Brunner, R. Scherschlicht, J. Zweck und H. Hoffmann
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DS 33.26 |
Untersuchung innerer Grenzflächen von Viellagenschichten auf atomarer Ebene mit zweidimensionalen Paarverteilungsfunktionen — •W. Brunner, W. Attenberger, R. Scherschlicht, J. Zweck und H. Hoffmann
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DS 33.27 |
Ramanspektroskopische Bestimmung von Schichtparametern in Si / Ge – Übergittern — •H. Kierey, U. Barkow, K. Dettmer und J. Schoenes
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DS 33.28 |
Korrelation von Oberflächentopologie und Schichtwachstum in gesputterten Viellagenschichten — •J. Langer, R. Mattheis, S. Schmidt, S. Bornmann und St. Senz
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DS 33.29 |
Herstellung dünner Schichten in einem MOCVD-Reaktor mit In-Situ Schichtdickenmessung — •F. Hamelmann, S. Petri, A. Klipp, J. Hartwich, U. Kleineberg, P. Jutzi und U. Heinzmann
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DS 33.30 |
Spektralellipsometrische Charakterisierung von Mo-, W- und Si-Schichten auf Si(111) — •Ayesha Mian, Peter Thomsen-Schmidt und D. Schäfer
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DS 33.31 |
ADAM: Das neue Reflektometer am Hochflu"sreaktor des ILL in Grenoble — •R. Siebrecht, A. Schreyer, F. Adams, U. Englisch, U. Pietsch, and H. Zabel
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DS 33.32 |
TEM-Querschnittsuntersuchungen an Plasmapolymerschichten mit eingelagerten Metallpartikeln — •Do Ngoc Uan und A. Heilmann M. Gruner
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DS 33.33 |
Charakterisierung verschiedener Bornitrid-Phasen mit Hilfe der kantennahen Feinstruktur in Elektronenenergieverlustspektren — •M. Wibbelt, P. Redlich, and H. Kohl
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DS 33.34 |
Entwicklung eines Raster-Ionenmikroskops mittels supraleitender Fokussierlinse — •Gerd Datzmann, Günther Dollinger, Günter Hinderer und Hans-Joachim Körner
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DS 33.35 |
Bestimmung von Zusammensetzung und Dicke dünner Schichten im Nano- bis Millimeterbereich mittels Röntgenfluoreszenz — •M. Klenk, Ch. Kloc und E. Bucher
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DS 33.36 |
Relativistische Effekte bei der Erzeugung von Elementverteilungsbildern mit dem Transmissionselektronenmikroskop — •R. Knippelmeyer und H. Kohl
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DS 33.37 |
Fluornachweis in dünnen Schichten mittels NRA
— •Th. Gerhäußer, J. Hartmann, B. Stritzker und W. Hösler
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DS 33.38 |
Der Einfluß von Korngrenzen auf die thermische Leitfähigkeit von CVD-Diamantschichten — •J. Hartmann, M. Reichling und T. Klotzbücher
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DS 33.39 |
SrTiO3 bicrystal boundaries studied with X-ray diffraction and STM — •A. Kazimirov, J. Zegenhagen, Q. Jiang, T. Haage, and R. Feidenhans’l
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DS 33.40 |
Wachstum und Charakterisierung von c-BN Schichten — •M. F. Plass, W. Fukarek, A. Kolitsch und W. Möller
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DS 33.41 |
Herstellung von Diamantcantilevern mit integrierten Diamantspitzen für AFM–Messungen — •W. Kulisch, D. Albert, A. Malave, C. Mihalcea, W. Scholz und E. Oesterschulze
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DS 33.42 |
In situ–Tunnelmikroskopie zur Charakterierung der Diamantabscheidung — •Ludger Ackermann and Wilhelm Kulisch
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DS 33.43 |
Gezielte Erzeugung verschiedener Texturen durch photonen- und ionengestützte Abscheidung am Beispiel von Titannitrid — •J.W. Gerlach, M. Zeitler, T. Kraus, B. Stritzker und B. Rauschenbach
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DS 33.44 |
Molekulardynamik-Studie zur Subplantation von Kohlenstoff in ta-C — •Sylke Uhlmann und Thomas Frauenheim
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DS 33.45 |
Diagnostik der Schichtwachstumsprozesse von kubischem Bornitrid durch in situ FTIR–Reflexionsspektroskopie — •K.-L. Barth, P. Bachem, W. Fukarek, M.F. Plass und A. Lunk
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DS 33.46 |
Diagnostik der Schichtwachstumsprozesse von kubischem Bornitrid durch in situ VIS–Ellipsometrie — •K.-L. Barth, P. Bachem und A. Lunk
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DS 33.47 |
Bestimmung der Sputterraten von kubischem und hexagonalem Bornitrid — •G. Rohrbach, M. Chen und A. Lunk
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DS 33.48 |
Pulsed Laser Deposition von epitaktischen Doppelschichten aus magnetischen Oxiden — •T. Glüsenkamp, C.A. Kleint, M.K. Krause, R. Höhne und P. Esquinazi
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DS 33.49 |
Untersuchungen des Wachstums laserdeponierter metallischer Schichten mittels in-situ Widerstandsmessungen — •M. Weisheit, S. Fähler und H. U. Krebs
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DS 33.50 |
The elimination of microparticles during vacuum arc deposition of Ti — •V. Semenov, B. Straumal, N. Vershinin, Y. Brechet, and W. Gust
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DS 33.51 |
Der Einflu"ss der Energieverteilung der Ladungstr"ager auf den integralen Energieeinstrom bei der Plasma-Wand-Wechselwirkung — •H. Kersten, H. Steffen, H. Deutsch, and R. Hippler
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DS 33.52 |
On the modification of powder particles immersed in an RF plasma by magnetron sputtering — •H. Kersten, G. Swinkels, P. Schmetz, G. Kroesen, and F. deHoog
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DS 33.53 |
Strahlenschäden in Uransiliziden — •Petra Meier
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DS 33.54 |
Mikrostrukturierung von Metallen und Halbleitern durch lichtinduziertes Trocken"atzen im VUV-Bereich — •H. Raaf, U. Streller, A. Krabbe, and N. Schwentner
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DS 33.55 |
DCEMS-Tiefenanalyse der Phasenbildung in Al-ionenimplantierten Fe-Oberflächen — •S. Kruijer, O. Nikolov, H. Reuther, W. Keune, S. Weber und S. Scherrer
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DS 33.56 |
Structural and Magnetic Properties of Ion irradiated Ag/Fe/Ag-layers investigated with Ferromagnetic Resonance and X-ray Diffraction — •D. Kurowski, R. Meckenstock, P. Sonntag, J. Pelzl, K. Brand, and P. Gruenberg
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DS 33.57 |
Co-Implantation in Si(111) bei Stromdichten größer 1A/cm2 — •S. Hausmann, L. Bischoff, J. Teichert, F. Herrmann und D. Grambole
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DS 33.58 |
Herstellung dünner Alkalisilikatschichten mit Spin-on-Technik — •Dagmar Janssen und Michael Anders
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DS 33.59 |
Untersuchung und gezielte Manipulation hochintegrierter Schaltungen mit dem AFM — •Friedrich Nehmeier, Alexander Rzany, Peter Bauer, Armin Bolz, Max Schaldach, Catherine Hahn und Paul Mueller
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DS 33.60 |
Konzept, Leistung und Anwendung einer kombinierten UHV STM/SEM/SAM-Apparatur — •A. Wießner, M. Agne, G. Schäfer, Th. Berghaus und J. Kirschner
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DS 33.61 |
Herstellung metallischer Nanostrukturen durch Lithographie mit dem Rasterkraftmikroskop — •Th. Mühl, H. Brückl, J. Kretz, I. Mönch, R. Rank, H. Vinzelberg und G. Reiss
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