Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe

DS: Dünne Schichten

DS 5: Tiefenaufgelöste Mößbauer–Spektroskopie

DS 5.1: Vortrag

Montag, 17. März 1997, 11:45–12:00, H 55

Tiefenabhängige Mößbauer-Spektroskopie (DCEMS): eine zer- störungsfreie Methode zur Charakterisierung dünner Schichten — •B. Stahl, R. Gellert, G. Klingelhöfer, M. Müller, R. Nagel, G. Walter, and E. Kankeleit — Institut f"ur Kernphysik, TH Darmstadt, Schloßgartenstr. 9, D-64289 Darmstadt

Die tiefenaufgelöste Mößbauer-Spektroskopie [1,2] hat sich in den letzten Jahren sowohl theoretisch wie auch experimentell zu einer Methode entwickelt [3], mit der eine Phasencharakterisierung in dünnen Oberflächenschichten als Funktion der Probentiefe möglich ist. Anhand von Messungen an Implantationsproben, magnetischen Einkristallen und Multilagensystemen wird die Aussagekraft und die derzeit erreichte Empfindlichkeit dieser zerstörungsfreien Methode demonstriert.
gefördert durch Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) und Gesellschaft für Schwerionenforschung (GSI)

[1] E. Kankeleit, Z.Phys. 164(1961)442

[2] T. Bonchev, A. Jordanov, A. Minkova, Nucl.Inst.Meth. 70(1969)36-40

[3] B. Stahl, E. Kankeleit, Nucl. Inst. Meth. B (1996) im Druck