DS 8: Charakterisierungsverfahren I
Montag, 17. März 1997, 15:15–16:15, H 55
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15:15 |
DS 8.1 |
Wachstum epitaktischer ferroelektrischer Aurivillius-Phasen auf Metalloxiden durch gepulste Laserabscheidung — •C. Curran, S. Senz, A. Pignolet, M. Alexe, S. Welke und D. Hesse
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15:30 |
DS 8.2 |
Bestimmung elektrisch wirksamer Defekte in dünnen SiO2- und SiOxNy- Schichten — •Reinhard Beyer, Hubert Burghardt, Eberhard Thomas, Rene Reich, Thomas Geßner und Dietrich R.T. Zahn
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15:45 |
DS 8.3 |
Elektromigration im Frühstadium — •Holger Schührer, Hubert Brückl und Günter Reiss
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16:00 |
DS 8.4 |
Herstellung und Charakterisierung von Niedertemperatur-Passivierungsoxiden — •A. Fischer, A. Strass, W. Hansch, F. Kaesen und I. Eisele
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