Münster 1997 – wissenschaftliches Programm

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DS: Dünne Schichten

DS 9: Mikrosonden

DS 9.2: Vortrag

Montag, 17. März 1997, 15:30–15:45, ZB

Untersuchung der mechanischen Eigenschaften von teilfluorierten Phosphazenfilmen mit dem Rasterkraftmikroskop — •S. Hild¹, L. Wei"s¹, Th. Reck², E. Sautter², and O. Marti¹ — ¹Abteilung Experimentelle Physik, Universit"at Ulm, 89069 Ulm — ²Abteilung Angewandte Physik, Universit"at Ulm, 89069 Ulm

Mit dem Rasterkraftmikroskop k"onnen neben der Struktur der Oberfl"ache auch die mechanischen Eigenschaften abgebildet werden. Eine M"oglichkeit, mechanische Eigenschaften zu untersuchen, bietet die Kraft-Modulationstechnik. Hierbei wird die Probe w"ahrend des Scannens im Kontakt sinusf"ormig (10 bis 200 kHz) moduliert. Das Antwortsignal wird mit Hilfe der Lock-In-Technik detektiert, wobei Amplitude und Phase getrennt aufgezeichnet werden. Letzteres erlaubt Aussagen "uber das elastische und viskoelastische Verhalten der Probe. Beispielhaft werden teilfluorierte Phosphazene mit unterschiedlicher Seitenkettenl"ange untersucht. Dazu wurden d"unne Filme auf ein Glimmersubstrat aufgebracht, wobei eine Inselstruktur der Polymere entsteht. Dies erm"oglicht den direkten Vergleich des Antwortsignals von hartem Substrat (Glimmer) und der zu untersuchenden Phosphazenfilme. Das Antwortsignal wurde frequenzabh"angig im oben genannten Bereich untersucht. "Uber die so erhaltenen Kontrastbilder kann der Elastizit"atsmodul mit Hilfe des Hertzmodells abgesch"atzt werden.