HL 15: STM
Dienstag, 18. März 1997, 10:30–12:30, H3
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10:30 |
HL 15.1 |
Erzeugung von nanometrischen Strukturen durch lokales Verschmelzen von Nanoteilchen mit dem Rastertunnelmikroskop — •P. Radojkovic, M. Schwartzkopff, P. Marquardt, T. Gabriel und E. Hartmann
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10:45 |
HL 15.2 |
Ortsaufgelöste Photostrommessungen mit einem STM — •Renate Hiesgen, Stefan Lipps und Dieter Meissner
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11:00 |
HL 15.3 |
Analyse von Nanostrukturen integrierter Schaltungen mittels Rasterkapazitätsmikroskopie — •A. Born und R. Wiesendanger
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11:15 |
HL 15.4 |
SNOM-Raman Untersuchungen an Halbleiter-Heterostrukturen — •M. Götz, D. Drews, R. Wannemacher und D..R.T. Zahn
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11:30 |
HL 15.5 |
Optische Nahfeldspektroskopie an niedrigdimensionalen Halbleiterstrukturen — •A. Deisenrieder, C. Obermüller, K. Karrai, W. Wegscheider, M. Bichler und G. Abstreiter
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11:45 |
HL 15.6 |
Demonstration eines THz-Nahfeldmikroskops — •M. Koch, S. Hunsche, M.C. Nuss, D. Mittleman und J. Feldmann
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12:00 |
HL 15.7 |
Raster-Thermomikroskopie mittels thermoelektrischer Mikrosonden auf Halbleiterbasis — •R. Fischer, R. Stitzinger und E. Gmelin
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12:15 |
HL 15.8 |
STM Untersuchungen an passivierten GaAs-Oberflächen — •Dietrich Coordes, Wilfried Clauß und Dieter P. Kern
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