Münster 1997 – scientific programme
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M: Metallphysik
M 14: Texturen II
Wednesday, March 19, 1997, 14:30–17:30, S 6
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14:30 | M 14.1 | Einzelorientierungsbestimmung im REM bei Heizversuchen zur Rekristallisation von Kupfer — •F. Springer and M. Radomski |
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14:50 | M 14.2 | Untersuchung der Elektromigration in Al-Leiterbahnen mittels Orientierungsmapping am REM — •M. Lepper, A. von Glasow und R. Schwarzer |
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15:10 | M 14.3 | Anwendung eines Elektrolumineszenzdetektors zur Texturanalyse mit Spektralentflechtung — •S. Sack, H. Klein und H.J. Bunge |
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15:30 | M 14.4 | Ortsaufgelöste Textur- und Mikro-Röntgenfluoreszenz-Analyse (MRFA) mittels energiedispersiver Beugung — •A. Fischer und A. Landa |
15:50 | 20 min. break | ||
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16:10 | M 14.5 | Anwendung einer Kapillarblende zur Intensitätsverbesserung bei der ortsaufgelösten Texturanalyse — •H. Klein und H.J. Bunge |
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16:30 | M 14.6 | Feinbereichs-Polfigurmessung mit einem CCD-Flächendetektor im TEM — •B. Schäfer |
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16:50 | M 14.7 | Texturanalyse dünner Schichten — •K. Helming |
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17:10 | M 14.8 | Hochaufgelöste Texturanalyse mit einem Flächendetektor — •H. Klein und H.J. Bunge |