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O: Oberflächenphysik

O 15: Raster-Kraft-Mikroskopie II

O 15.6: Vortrag

Dienstag, 18. März 1997, 10:45–11:00, BOT

Spektroskopische Messungen und chemische Identifizierung an Nanogrammproben mittels Magnetresonanzkraftmikroskopie — •D. Pudlatz und H. Fuchs — Physikalisches Institut der Universität Münster, Wilhelm-Klemm-Str. 10, 48149 Münster

Die chemische Charakterisierung von Substanzen ist mit herkömmlichen Rastersondenmethoden nur qualitativ durch Vergleichsmessungen z.B. über Reibungskontrast durchführbar. Durch den Einsatz der noch jungen Methode der Magnetresonanzkraftmikroskopie ist die Identifizierung ohne Referenzmessung möglich. Dabei werden die paramagnetischen Eigenschaften (ESR–MRFM) oder der Kernspin (NMR–MRFM) einer Probensubstanz genutzt, um durch Modulation eines inhomogenen B–Feldes und eine dazu senkrechte HF–Strahlung, im Resonanzfall die Auslenkung eines AFM-Cantilevers zu messen [1]. Es konnte ein neues MRFM aufgebaut werden, welches die Untersuchung der Proben an Luft ermöglicht! In einem ersten Schritt wurden paramagnetische Proben (DPPH) von weniger als 20 ng untersucht.

[1] D. Rugar, C.S. Yannoni, J.A. Sidles, Nature 360, 563-566 (1992)