Parts | Days | Selection | Search | Downloads | Help

O: Oberflächenphysik

O 20: Optische Nahfeld-Mikroskopie

O 20.12: Talk

Tuesday, March 18, 1997, 18:45–19:00, BOT

Nahfeld-Magnetooptik — •A. Englisch, R. Houbertz und U. Hartmann — FR Experimentalphysik, Universität des Saarlandes, D-66041 Saarbrücken

Es wurden verschiedene magnetische Schichten mit einem optischen Rasternahfeldmikroskop (SNOM) untersucht, um das Anwendungspotential des SNOM systematisch zu eruieren. Die dabei verwendeten Sonden sind zu einer Spitze ausgezogene, mit Aluminium beschichtete Glasfasern, die Licht mit bestimmten Polarisationseigenschaften transmittieren. Dadurch lassen sich unterschiedliche magnetooptische Kontraste realisieren. Im einzelnen konnten Faradayrotation und -dichroismus im Nah- und Fernfeld sowie der polare Kerreffekt verifiziert werden. Zusätzlich zu den Messungen im Standard-SNOM-Modus wurden phasenempfindliche Detektionsmöglichkeiten realisiert. Es kann einerseits mit Hilfe eines Magnetfeldes die Magnetisierung der Probe moduliert werden. Andererseits kann mit einer Pockelszelle die Polarisation des Lichts moduliert werden. Mittels des Photomultipliers wird dann die oszillierende Lichtintesität frequenz- und phasenselektiv detektiert.