Münster 1997 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 20: Optische Nahfeld-Mikroskopie

O 20.13: Vortrag

Dienstag, 18. März 1997, 19:00–19:15, BOT

Nahfeldoptische Untersuchung von Farbstoffen zur Strukturaufklärung von Polymeren — •A. Simon, R. Brunner, O. Hollricher, J. Kroener und O. Marti — Abteilung Experimentelle Physik, Universität Ulm, D- 89069 Ulm

Es werden Messungen eines neu aufgebauten Nahfeldmikroskops an Farbstoffmolekülen, eingebettet in Polymeren, vorgestellt. Das Nahfeldmikroskop arbeitet nach dem Prinzip eines Apertur-SNOMs und ist zur Messung in Transmission ausgelegt. Die Abstandsregelung nutzt das Prinzip der piezoelektrischen Scherkraftdetektion. Dieses nichtoptische Verfahren vermeidet Streulicht auf der Probe und ist einfach zu handhaben. Ein Piezopaar regt die Glasfaserspitze zum Schwingen an und detektiert die Amplitude und die Phasenverschiebung. Es wird eine topographische Auflösung von unter 1nm erreicht. Die optische Detektion ist empfindlich genug einzelne Farbstoffmoleküle mit einer räumlichen Auflösung von zirka 100nm zu detektieren. Die Fluoreszenz ist abhängig von ihrer Umgebung und damit empfindlich auf Parameter wie Druck, Temperatur, etc. Die Möglichkeiten zur lokalen Bestimmung dieser Eigenschaften werden diskutiert.