Münster 1997 – scientific programme

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O: Oberflächenphysik

O 20: Optische Nahfeld-Mikroskopie

O 20.1: Talk

Tuesday, March 18, 1997, 16:00–16:15, BOT

Materialkontrast mit einem Farb–Photonen–Rastertunnelmikroskop — •J. Kinski¹, H. Brückl², N. Sotnik¹ und W. Elsäßer¹ — ¹Institut für Angewandte Physik, Technische Hochschule Darmstadt — ²Institut für Festkörper und Wertstofforschung, Dresden

Es wird eine Weiterentwicklung eines optischen Nahfeldmikroskops, das Farb–Photonen–Rastertunnelmikroskop (Color–PSTM), vorgestellt. Das Color–PSTM liefert neben der Oberflächen–Topographie zugleich lokale spektrale Informationen, die z.B. zur Materialunterscheidung dienen können. Dabei wird die monochromatische Lichtquelle eines konventionellen PSTM durch eine Weißlichtquelle ersetzt. Das detektierte Licht wird durch Filter in einen roten, grünen und blauen Anteil zerlegt. Dieses RGB–Signal enthält die lokale spektrale Antwort des Materials und kann zu einem ’Echt’–Farbenbild zusammengesetzt werden. Untersuchungen an verschiedenen Farbstoffen zeigen eindeutige Unterschiede in der spektralen Zusammensetzung, die zur Identifizierung dienen können. Desweiteren werden erste Ergebnisse an dünnen Schichten aus metallischen Mischsystemen (Ag, Au) vorgestellt.