Münster 1997 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 20: Optische Nahfeld-Mikroskopie

O 20.2: Vortrag

Dienstag, 18. März 1997, 16:15–16:30, BOT

Abstandskontrolle in einem nahfeldoptischen Mikroskop unter verschiedenen Umgebungsbedingungen — •O. Hering, R. Brunner, A. Simon, O. Hollricher und O. Marti — Abteilung Experimentelle Physik, Universität Ulm, D- 89069 Ulm

Die optische Nahfeldmikroskopie bietet die Möglichkeit optische Strukturen unterhalb des Abbeschen Beugungslimits zu untersuchen. Dabei ist es notwendig eine Apertur dicht ueber die zu untersuchende Oberfläche zu führen. Üblicherweise wird diese Apertur durch Bedampfung einer Glasfaserspitze gebildet. Zur Abstandsregelung zwischen Glasfaserspitze und Probe wird die Scherkraftdetektion benutzt, wobei die Glasfaserspitze zu mechanischen Schwingungen angeregt wird und deren Amplituden- bzw. Phasenänderung bei Annäherung an die Oberfläche als Regelgrösse dient. Die Ursachen dieser Dämpfung sind zur Zeit noch nicht vollständig verstanden.

Zur Untersuchung der Ursachen der Scherkraftdämpfung benutzen wir ein piezoelektrisches Detektionssystem bei dem ein Piezo zur Anregung der Faser und ein zweiter zur Detektion der Schwingung verwendet wird. Messungen unter verschiedenen Umgebungsbedingungen sowie in Flüssigkeiten werden präsentiert.