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O: Oberflächenphysik

O 20: Optische Nahfeld-Mikroskopie

O 20.3: Vortrag

Dienstag, 18. März 1997, 16:30–16:45, BOT

Aufl"osung unbedampfter Spitzen in der Optische Nahfeldmikroskopie: doch beugungsbegrenzt? — •S. Wegscheider, V. Sandoghdar, G. Krausch, and J. Mlynek — Fakult"at f"ur Physik, Universit"at Konstanz, Universit"atsstr. 10, D-78465 Konstanz

Die Verwendung unbedampfter Glasfaserspitzen in einem optischen Nahfeldmikroskop in Reflexion hat gegen"uber der Verwendung von metallbedampften Spitzen den Vorteil hoher Signalintensit"aten, einfacher Handhabung und der Anwendbarkeit an nicht transparenten Proben. Theoretische und experimetelle Untersuchungen haben f"ur diese Spitzen eine Aufl"osung unterhalb des Beugungslimits vorhergesagt bzw. demonstriert. Wir haben in weiteren Experimenten den Einflu"s der Topografie und der Wellenl"ange des verwendeten Lichtes auf die erhaltene Aufl"osung untersucht und zeigen, da"s die reale optische Aufl"osung beugungsbegrenzt ist. Erhaltene Aufl"osungswerte unterhalb des Beugungslimits sind topografieinduziert und k"onnen mittels eines Interferenz-Modells erkl"art werden.

 
†neue Anschrift: Institut f"ur Physikalische Chemie, LMU M"unchen, Theresienstr. 39, D-80333 M"unchen