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O: Oberflächenphysik

O 20: Optische Nahfeld-Mikroskopie

O 20.5: Vortrag

Dienstag, 18. März 1997, 17:00–17:15, BOT

Polarisationserhaltung in der magneto-optischen Nahfeldmikroskopie — •F. Matthes, H. Brückl und R. Reiss — Institut für Festkörper- und Werkstofforschung, Helmholtzstraße 20, 01171 Dresden

Die magneto-optische Nahfeldmikroskopie ist eine hoffnungsvolle neue Methode zur Charakterisierung magnetischer Strukturen in dünnen Schichten und Nanostrukturen. Sie ermöglicht die Untersuchung der Topographieeinflüsse in der Domänenstruktur, lokal hochaufgelöste Hysteresemessungen, eine von Topographieeffekten unabhängige Bestimmung der lateralen optische Auflösung oder eine Erhöhung in der magneto-optischen Speicherdichte. Notwendige Voraussetzung für definierte und reproduzierbare Meßbedingungen ist die Polarisationserhaltung des übertragenden Systems (Glasfaser, Spitze, Objekt,etc). Vorgestellt werden systematische Untersuchungen zum Polarisationstransfer verschiedener Glasfasersysteme und die Auswirkung auf die Auflösung im PSTM- und SNOM-Modus.