Münster 1997 – scientific programme
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O: Oberflächenphysik
O 20: Optische Nahfeld-Mikroskopie
Tuesday, March 18, 1997, 16:00–19:15, BOT
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16:00 | O 20.1 | Materialkontrast mit einem Farb–Photonen–Rastertunnelmikroskop — •J. Kinski, H. Brückl, N. Sotnik und W. Elsäßer |
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16:15 | O 20.2 | Abstandskontrolle in einem nahfeldoptischen Mikroskop unter verschiedenen Umgebungsbedingungen — •O. Hering, R. Brunner, A. Simon, O. Hollricher und O. Marti |
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16:30 | O 20.3 | Aufl"osung unbedampfter Spitzen in der Optische Nahfeldmikroskopie: doch beugungsbegrenzt? — •S. Wegscheider, V. Sandoghdar, G. Krausch, and J. Mlynek |
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16:45 | O 20.4 | Preparation of Near-Field Optical Probes — •H. Gao and U. Hartmann |
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17:00 | O 20.5 | Polarisationserhaltung in der magneto-optischen Nahfeldmikroskopie — •F. Matthes, H. Brückl und R. Reiss |
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17:15 | O 20.6 | Polarisationsempfindliche Messungen mit dem Optischen Raster– Nahfeld–Mikroskop — •S. Werner, O. Rudow, Ch. Mihalcea, S. Münster, W. Scholz und E. Oesterschulze |
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17:30 | O 20.7 | Fluoreszenz einzelner Moleküle im konfokalen/nahfeldoptischen Mikroskop — •W. Göhde, J. Tittel, Th. Basché, U.C. Fischer, G. Müller, K. Müllen, H. Fuchs und C. Bräuchle |
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17:45 | O 20.8 |
Nichtlinear optische Mikroskopie zur Charakterisierung von Grenzflächen — •Ch. Brillert, M. Wierschem, D. Essing, M. Flörsheimer und H. Fuchs |
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18:00 | O 20.9 |
Laser-Frequenzmischexperimente im Rastertunnelmikroskop bei 1,3 µm — •W. Krieger, Th. Gutjahr-L"oser, A. Hornsteiner, and H. Walther |
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18:15 | O 20.10 | Dielektrischer Kontrast im Langwellen-SNOM: Erklärung duch 1dim. Kondensatormodell — •Bernhard Knoll, Fritz Keilmann, Axel Kramer und Reinhard Guckenberger |
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18:30 | O 20.11 | Theoretische Untersuchungen zur optischen Nahfeldmikroskopie — •E. Paule und P. Reineker |
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18:45 | O 20.12 | Nahfeld-Magnetooptik — •A. Englisch, R. Houbertz und U. Hartmann |
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19:00 | O 20.13 | Nahfeldoptische Untersuchung von Farbstoffen zur Strukturaufklärung von Polymeren — •A. Simon, R. Brunner, O. Hollricher, J. Kroener und O. Marti |