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O: Oberflächenphysik

O 22: POSTER II

O 22.52: Poster

Mittwoch, 19. März 1997, 14:15–15:45, AULA

Kompaktes Gitterspektrometer für inverse Photoemission — •M. Boehme, L. Kipp, B. Bley und M. Skibowski — Institut für Experimentalphysik, Universität Kiel, D-24098 Kiel

Es wird ein in senkrechtem Einfall betriebenes Gitterspektrometer für winkelaufgelöste inverse Photoemissionsspektroskopie im Photonenenergiebereich von 10 bis 40 eV vorgestellt. Nach Beugung an einem sphärischen Gitter mit dem Radius R=201.4 mm und mit 3600 Linien pro mm werden die Photonen von einem ortsauflösenden Detektor registriert. Durch Abweichen von der Rowland-Kreis-Anordnung für die Position von Probe und Detektor wird ein kompakter Aufbau erreicht, bei dem Gitter und Detektor auf einem gemeinsamen 150 CF UHV-Flansch montiert sind. Dadurch kann das Spektrometer sehr einfach und effektiv mit anderen Komponenten zur Oberflächenanalyse kombiniert werden. Bei Verwendung einer Elektronenkanone mit BaO-Kathode liefert das Gitterspektrometer eine typische Gesamtenergieauflösung von 360 meV bei hν=15 eV.