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O: Oberflächenphysik

O 22: POSTER II

O 22.65: Poster

Wednesday, March 19, 1997, 14:15–15:45, AULA

Rekonstruktion von AFM–Spitzenprofilen aus Topographiebildern und deren Analyse — •M. Lucas, P.M. Williams* und H. Fuchs — Physikalisches Institut, Wesfälische Wilhelms-Universität Münster, Wilhelm-Klemm Str.10, D-48148 Münster

Informationen über das Profil der abbildenden AFM–Spitze sind in einem Topographiebild enthalten. Anhand von bestimmten Bildbereichen, die für die abbildende Spitze charakteristisch sind, lassen sich diese Informationen gewinnen. Die stumpfeste Spitzenform, welche das Topographiebild abgebildet haben kann, kann allein aus einem AFM–Bild herausgerechnet werden (’blind reconstruction’)[1]. Die Analyse der herausgerechneten Spitzenformen, die Wechselwirkungen zwischen Spitze und Probe, in welcher Form auch immer, enthalten können, erfolgt mit Hilfe von Optimierungsalgorithmen. Diese liefern Strukturinformationen über eine pyramidale Spitze, welche mit der herausgerechneten Form der Spitze bestmöglich übereinstimmt. Meßparameter sowie Wechselwirkungen zwischen Spitze und Probe wurden untersucht.

[1] P.M. Williams et al., J. Vac. Sci. Technol. B 14(2), Mar/Apr 1996

[*] P.M. Williams, Labaratory of Biophysics and Surface Analysis, Departement of Pharmaceutical Sciences, University of Nottingham, U.K.