O 26: Methodisches (Experiment)
Wednesday, March 19, 1997, 16:00–19:00, BOT
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16:00 |
O 26.1 |
µ–ESCA und µ–AES Untersuchungen an Oberflächen von metallischen Schichtsystemen — •O. Schmidt, Ch. Ziethen, D. Menke, A. Oelsner, U. Kleineberg, G.H. Fecher, U. Heinzmann und G. Schönhense
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16:15 |
O 26.2 |
Adsorptions- und Desorptionsstudien auf Oberflächen mittels PEEM — •M. D. v. Przychowski, G. K. L. Marx und G. Schönhense
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16:30 |
O 26.3 |
A Novel Surface Science Instrument: Double Reflexion Electron Emission Microscope — •K. Grzelakowski
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16:45 |
O 26.4 |
Streuung metastabiler He 23S Atome an NiO- und Cu-Oberflächen — •P. Fouquet, P. Day, J.P. Toennies und G. Witte
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17:00 |
O 26.5 |
Kopplung einer UHV–Anlage mit einer Hochtemperaturzelle und einem Beschleuniger† — •G. Kirchner, A. Eisele, J.J. Paggel, B. Polivka, H. Tilsner, R. Veith, C. Weindel, H. Winnefeld, D. Fick und H.J. Jänsch
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17:15 |
O 26.6 |
Eine Quelle atomaren Wasserstoffs bekannter Flußdichte — •K.G. Tschersich
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17:30 |
O 26.7 |
Eindeutige Analyse von Neutronen-Reflektometriemessungen* — •J. Kasper, H. Leeb und R. Lipperheide
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17:45 |
O 26.8 |
Detektion kleinster Kräfte mittels SQUID — •V. Dworak, P. Pitzius und U. Hartmann
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18:00 |
O 26.9 |
Bildladungseffekte auf die Trajektorien schneller He-Atome und He+-Ionen bei der streifenden Streuung an Al(111) — •T. Hecht und H. Winter
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18:15 |
O 26.10 |
Isotope effects in grazing collisions of He2+ with Al(110) surfaces — •T. Schlath"olter, H. Limburg, A. N"armann, R. Hoekstra, H. Khemliche, and R. Morgenstern
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18:30 |
O 26.11 |
Mikromechanische Mehrspitzen-Anordnung f"ur die Raster-Sonden-Mikroskopie — •A.-D. M"uller, F. M"uller, and M. Hietschold
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18:45 |
O 26.12 |
NON CONTACT AFM STUDIES IN UHV OF SEMICONDUCTORS AND INSULATORS — •CH. LOPPACHER, M. BAMMERLIN, M. GUGGISBERG, J. LÜ, R. LÜTHI, E. MEYER, and H.-J. GÜNTHERODT
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