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O: Oberflächenphysik

O 27: Flüssigkeits- und Elektrodenoberflächen

O 27.7: Vortrag

Mittwoch, 19. März 1997, 17:30–17:45, PC 4

Konzentrationstiefenprofile mit Ionenstreuspektroskopie an
Flüssigkeitsoberflächen — •G. Andersson und H. Morgner — Institut für Experimentalphysik, Universität Witten/Herdecke, Stockumerstr.10, D-58448 Witten

Es wird Ionenstreuspektroskopie zur Untersuchung von Lösungen mit oberflächenaktiven Substanzen vorgestellt. Als Projektile werden Heliumionen im Energiebereich von 1 - 5 keV verwendet. Unter einem Streuwinkel nahe 180^∘ werden sowohl rückgestreute Heliumionen (ICISS) als auch Heliumneutrale (NICISS) nachgewiesen, deren Energie mit Hilfe der Flugzeittrennung bestimmt wird. Die rückgestreuten Ionen geben die atomare Zusammensetzung der äußersten Atomlage wieder. Dringen die Ionen in die Flüssigkeit ein, werden sie neutralisiert. Der gesamte Energieverlust der rüchgestreuten Heliumneutralen setzt sich aus dem Energieverlust beim Rückstreuvorgang und dem Enegieverlust durch Wechselwirkung mit den Molekülen der Flüssigkeit (stopping power) auf dem Hin- und Rückweg zwischen Oberfläche und Targetatom zusammen. Die Enegiespektren können dadurch in Konzentrationstiefenprofile umgerechnet werden. Es konnte eine Tiefenauflösung von 5 Å erzielt werden.

Untersucht wurden Lösungen von Tetraalkylamoniumsalzen in Hydroxypropionitril. Dabei konnte tiefenaufgelöst die Anreicherung der Salze im oberflächennahen Bereich bestimmt werden.
Das Projekt wird durch die DFG gefördert.