Münster 1997 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 31: Raster-Tunnel-Mikroskopie

O 31.2: Vortrag

Donnerstag, 20. März 1997, 11:30–11:45, BOT

In situ Messungen der Zerfallslänge von Oberflächenplasmonpolaritonen mittels Tunnelmikroskopie und ATR-Methode — •M. Markert und M. Klopfleisch — TU Ilmenau, Institut für Physik, PF 100565, 98684 Ilmenau

Die optische Bestimmung der Zerfallslänge von Oberflächenplasmonpolaritonen mittels ATR-Messungen setzt ihre Beschreibbarkeit durch die Fresneltheorie voraus. Inwieweit diese Vorgehensweise bei Ausbreitungseffekten erlaubt ist und in welchen Energiebereichen ihre Grenzen erreicht werden, kann durch ATR nicht exakt nachgeprüft werden. Mit der Tunnelmikroskopie besteht die Möglichkeit elektromagnetische Oberflächenwellen über ihren Einfluß auf den Tunnelstrom zwischen Metallprobe und Tunnelspitzen lokal zu sondieren und ihr Ausbreitungsverhalten auch bei starker Dämpfung zu untersuchen. Die Bestimmung der Zerfallslänge von Oberflächenplasmonpolaritonen wurde in situ an Au- und Ag- Oberflächen mittels Tunnelmikroskopie und ATR-Technik vorgenommen und ihre Dispersion mit der berechneten verglichen.