Münster 1997 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 31: Raster-Tunnel-Mikroskopie

O 31.5: Vortrag

Donnerstag, 20. März 1997, 12:15–12:30, BOT

Thermospannung im Rastertunnelmikroskop: Spektroskopie von Oberflächenzuständen — •M. A. Schneider, K. J. Engel, M. Wenderoth und R. G. Ulbrich — IV. Physikalisches Institut, Universität Göttingen, Bunsenstr. 13, 37073 Göttingen

Mit der Methode der Rastertunnelpotentiometrie haben wir die laterale Variation der Thermospannung zwischen der Spitze eines Tunnelmikroskops und der Oberfläche eines dünnen Goldfilms im UHV untersucht. Mit einem Heizstrom durch den Film erwärmen wir diesen um einige 10K. Wegen der geringen Wärmekopplung über den Tunnelkontakt wird die Temperatur der Spitze dadurch nur wenig beeinflußt [1]. Wir beobachten Unterschiede zwischen dem Seebeckkoeffizienten des Tunnelkontaktes [2] auf der (111)-Oberfläche und an monatomaren Stufen von etwa 10 µ V/K. Diese laterale Variation der Thermospannung beruht auf der Variation der lokalen Zustandsdichte von Au(111).

Diese Arbeit wird im Rahmen des SFB 345 gefördert.

[1] J.B. Xu et al., J. Appl. Phys. 76, 7209, (1994)

[2] A. Rettenberger et al., Appl. Phys. Lett. 67,1217 (1995)