Münster 1997 – scientific programme
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O: Oberflächenphysik
O 40: Methodisches (Theorie)
O 40.6: Talk
Friday, March 21, 1997, 12:30–12:45, BOT
Physikalische Modelle zur Anpassung an XPS-Spektren von Polymeren — •S. Mähl1, A. Baalmann2, V. Schlett2 und M. Neumann1 — 1Universität Osnabrück, Barabarastr. 7, D-49069 Osnabrück — 2Fraunhofer-Institut für Angewandte Materialforschung, Lesumer Heerstr. 36, D-28717 Bremen
Die chemische Strukturbestimmung mittels XPS durch das sogenannte „least square fitting“ der Rumpfniveauspektren ist eine Standardmethode bei der Auswertung von XPS-Spektren. In der Regel werden hierfür empirische Modelle benutzt, deren Parameter eine Beurteilung der Ergebnisse erschwert. Desweiteren wird der Untergrund der Spektren meist separat behandelt, was zusätzliche Probleme mit sich bringt.
Es wird ein physikalisches Modell zur Beschreibung von XPS-Rumpfniveauspektren vorgestellt unter gleichzeitiger Berücksichtigung des inelastischen Untergrundes und der Linienform. Die freien Parameter des Modells können mittels der Methode der kleinsten quadratischen Abweichung angepasst werden. Durch dieses Vorgehen gelangt man zu einer fundierteren Bestimmung der chemischen Struktur, was an ausgewählten Modellpolymeren demonstriert wird. Wie die statistische Analyse der Modellanpassung zur weiteren Absicherung der Ergebnisse beitragen kann, wird ebenfalls gezeigt.