O 4: Raster-Kraft-Mikroskopie I
Montag, 17. März 1997, 09:30–11:15, BOT
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09:30 |
O 4.1 |
Untersuchung von Ladungsverteilungen in photorefraktiven Kristallen mit dem Rasterkraftmikroskop — •E. Soergel, W. Krieger, V. Vlad und H. Walther
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09:45 |
O 4.2 |
Aufbau eines Rasterkraftmikroskops mit Faserkopplung und Lichtzeigerdetektion — •R. Steinkampf, S. Lukas, R. Houbertz und U. Hartmann
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10:00 |
O 4.3 |
Atomare Auflösung auf Gold(111) mit dem Raster–Kraft–Mikroskop im UHV — •P. Güthner und Molitor
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10:15 |
O 4.4 |
AFM bei Variabler Temperatur im UHV — •A. Feltz, P. Guethner und T. Berghaus
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10:30 |
O 4.5 |
FUZZY LOGIC CONTROL APPLIED TO SCANNING PROBE MICROSCOPY — •F.M. BATTISTON, M. BAMMERLIN, R. LÜTHI, E. MEYER, M. GUGGISBERG, J. LÜ, L. HOWALD, and H.-J. GÜNTHERODT
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10:45 |
O 4.6 |
Analyse von Wechselwirkungsmechanismen im dynamischen
AFM-Betrieb durch Simulation und Experiment — •B. Anczykowski, D. Krüger und H. Fuchs
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11:00 |
O 4.7 |
Aufbau und Test eines UHV-Rasterkraftmikroskopes mit interferometrischer Auslenkungsdetektion — •P. Leinenbach, U. Memmert, M. Laerbusch, H.-A. Fuß, F. Saurenbach und U. Hartmann
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