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Münster 1997 – scientific programme

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PO: Polymerphysik

PO 4: Poster: Oberflächen und Grenzflächen

Monday, March 17, 1997, 15:30–17:30, Gg

15:30 PO 4.1 Fraktale Dimension und Oberflächenrauhigkeit von Rußteilchen — •H. Raab, T. Maier und D. Göritz
15:30 PO 4.2 Structure of ultra-thin liquid crystalline polymer films
— •A. Vix, W. Stocker, P. M"uller-Buschbaum, M. Stamm, and J.P. Rabe
15:30 PO 4.3 Überprüfung von Skalengesetze endadsorbierter Polymere — •R. Teppner, M. Harke und H. Motschmann
15:30 PO 4.4 Substratinduzierte, laterale Mikrophasenseparation eines Zweiblockcopolymers — •Joachim P. Spatz, Peter Eibeck, Stefan Mößmer und Martin Möller
15:30 PO 4.5 Dynamik der Entnetzung an Polymer-Polymer-Grenzflächen — •K.C. Phelan , M.H. Rafailovich , J. Sokolov  und G. Krausch
15:30 PO 4.6 Structure and Dynamics of Polymers at Surfaces, Interfaces and in a Confined Space. Computer Simulation. — •T. Pakula
15:30 PO 4.7 Photoelektronenspektroskopie an Kupfer/Polyanilin-Grenzflächen — •H. Ladebusch, M. Kiene und T. Strunskus
15:30 PO 4.8 Frühstadien der Kupfer/Polyimid Grenzflächenentstehung — •M. Kiene, T. Strunskus und F. Faupel
15:30 PO 4.9 Oberflächenmodifikation von Polymeren durch KrF Excimer-Laserstrahlung — •H. Horn, S. Beil, C. Hilgers, K. Pochner und E.-W. Kreutz
15:30 PO 4.10 Untersuchung des Aufwachsens von Metallen auf Polymeren unter kombinierter Verwendung von AFM und TEM — •V. Zaporojtchenko, C. v. Bechtolsheim, M. Kiene, T. Strunskus und F. Faupel
15:30 PO 4.11 Charakterisierung der Bindungseigenschaften von Aluminium auf plasmabehandeltem Bisphenol-A-Polycarbonat mittels XPS — •H. Kopf, B. Gotsmann, C. Seidel und H. Fuchs
15:30 PO 4.12 Photoemissionselektronenmikroskopische Beobachtung der Entnetzung dünner Polymerfilme auf Silizium — •M. D. v. Przychowski, G. K. L. Marx, C. Lorenz, P. Vanhooren, M. Stamm und G. Schönhense
15:30 PO 4.13 Mikrostrukturelle Charakterisierung metallischer Aufdampfschichten auf thermoplastischen Substraten — •Ingo Lieberwirth, Rainer Janlewing, Frank Katzenberg und Jürgen Petermann
15:30 PO 4.14 Orientierung von aufgedampftem Zinn auf uniaxial hochorientiertem Polytetrafluorethylene — •Frank Katzenberg und Jürgen Petermann
15:30 PO 4.15 Der dynamische Reibungskontrast als neue Methode zur Charakterisierung von Polymeroberflächen in der Rasterkraftmikroskopie — •Heinz Sturm, Eckhard Schulz und Martin Munz
15:30 PO 4.16 Oberflächeninduzierte Organisation von n-Alkanen auf nanostrukturiertem PTFE: brillouinspektroskopische und kalorische Untersuchungen zur Charakterisierung der strukturellen Phasenübergänge von n-Alkanen am Beispiel des n-Pentacosan und n-Tritriaconta — •C. FISCHER, J. K. Krüger, K.-P. Bohn und R. Jim-Nez
15:30 PO 4.17 Rasterkraftmikroskopische Untersuchungen zur Morphologie
und Deformation von Polyamid-Folien
— •D. Drechsler, A. Karbach und H. Fuchs
15:30 PO 4.18 Oberflächenanalyse von Polymerproben mittels Schwerionen - Elastic Recoil Detection — •H. Ermer und R. Brenn
15:30 PO 4.19 Untersuchung der Oberfl"achenstruktur bei Glas"uberg"angen mittels oberfl"achenempfindlicher R"ontgenstreuung — •J. Stettner, M. Tolan, A. Doerr, J.-P. Schlomka, B. Lohse, and C. Gutt
15:30 PO 4.20 Tiefenprofilmessungen von Diffusionsprofilen mit Hilfe der Methode der ioneninduzierten Photonenemission (IIPE) — •T. Benchekmoumou, J. Brückner und R. Brenn
15:30 PO 4.21 Kristallstruktur orientierter Poly(di-n-hexylsilan)-Filme — •A. Fuchs, T. Pieper, B. Heise, W. Wilke, L. Schwegler und M. Möller
15:30 PO 4.22 Untersuchungen katalytischer Polymermembranen mittels der Röntgenkleinwinkel- und der Röntgenweitwinkelstreuung — •G. v. Krosigk, J. Theis, D. Fritsch, S. Cunis, U. Lode und W. Wilke
15:30 PO 4.23 Charakterisierung des Faser/Polymer-Interface mittels Messung lokaler mikromechanischer Eigenschaften in der Rasterkraftmikroskopie — •Heinz Sturm, Eckhard Schulz, Martin Munz und Georg Hinrichsen
15:30 PO 4.24 Ladungsstabilität koronageladener Fluorpolymerfilme nach Niederdruckplasma-Behandlung — •Wolfgang Künstler, Reimund Gerhard-Multhaupt, Jolanta Klemberg-Sapieha, Ludvik Martinu und Michael R. Wertheimer
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