Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe
TT: Tiefe Temperaturen
TT 13: HTSL: Ramanstreuung, elektronische Struktur
TT 13.8: Vortrag
Mittwoch, 19. März 1997, 16:45–17:00, F2
Entwicklung der elektronischen Struktur mit der Lochdotierung in Bi2Sr2YxCa1−xCu2O8+δ — •A. Müller, J. Augustin, H. Dwelk, A. Krapf und R. Manzke — Institut für Physik, Humboldt-Universität zu Berlin, Invalidenstr. 110, D-10115 Berlin
Wir präsentieren winkelaufgelöste Photoemissionsergebnisse des höchsten
besetzten Zustandes der Einkristalle Bi2Sr2YxCa1−xCu2O8+δ
mit Löcherkonzentrationen zwischen dem isolierenden, antiferromagnetisch
geordneten und dem supraleitenden, metallischen Grenzfall. Die Daten werden
verglichen mit jüngsten Resultaten vom verwandten Kuprat-System
Bi2Sr2DyxCa1−xCu2O8+δ [1] und dem Modell-Isolator
Sr2CuO2Cl2 [2] sowie Berechnungen im Rahmen des t-J-Modells.
Gefördert durch das BMBF (Projekt 05 605 KHA).
[1] D.S. Marshall et.al., Phys. Rev. Letters 76(25), 4841 (1996)
[2] B.O. Wells et.al., Phys. Rev. Letters 74(6), 964 (1995)