Münster 1997 – wissenschaftliches Programm
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TT: Tiefe Temperaturen
TT 18: Energieanwendungen von HTSL, Drähte, Bänder
TT 18.4: Vortrag
Donnerstag, 20. März 1997, 16:45–17:00, F2
Biegeexperimente an Bi(2223) Bandleitern — •B. Ullmann, A. Gäbler, M. Quilitz und W. Goldacker — Forschungszentrum Karlsruhe, Institut für Technische Physik, 76021 Karlsruhe
Der kritische Strom von Bi(2223) Bandleitern ist von der mechanischen (Vor)belastung abhängig. Neben axialen Zugversuchen sind Biegeexperimente ein einfaches Werkzeug zur qualitativen Untersuchung dieses Zusammenhanges. Weiterhin kann durch Biegen die Eignung von Leitern für das Wickeln von Spulen und Kabeln mit kleinen Radien überprüft werden. In diesem Beitrag wird der kritische Strom von Ag und AgMg umhüllten Bi(2223) Leitern nach Biegen bei 77K und Raumtemperatur (RT) untersucht. Die mechanischen Eigenschaften der AgMg umhüllten Leiter werden durch die MgO Bildung während der thermomechanischen Behandlung durch Ausscheidungshärtung verbessert. Diese verstärkten Leiter degradieren durch mehrfaches Tieftemperaturbiegen auf r=1cm nur um etwa 20%, während nicht verstärkte, klassische, Bandleiter um bis zu 80% degradieren. Biegen bei RT verkleinert Ic für Biegeradien kleiner etwa 50 mm. Spezielle Biegeverstärkungen werden vorgestellt. Für degradierte und nicht degradierte Leiter wird ein ähnliches hysteretisches Feldverhalten von Ic beobachtet.