Parts | Days | Selection | Search | Downloads | Help

TT: Tiefe Temperaturen

TT 6: Postersitzung I: Mesoskopie(1-21), amorphe Metalle und Defektsysteme(22-29), Kryotechnik, Kernmagnetismus(30-37), festes N₂(38), Quantenflüssigkeiten und -kristalle(39-48), dünne supraleitende Filme(49-68), schwere Fermionen und Kondosysteme(69-92), Fullerene(93-94)

TT 6.2: Poster

Tuesday, March 18, 1997, 09:30–13:00, Z1

Universelle Leitwertfluktuationen in Nanometerdrähten — •C. Wallisser¹, R. Schäfer¹ und H. Hein² — ¹Forschungszentrum Karlsruhe, INFP, Postfach 3640, 76021 Karlsruhe — ²Forschungszentrum Karlsruhe, IMT, Postfach 3640, 76021 Karlsruhe

Es wird über die Herstellung von Nanodrähten aus Edelmetallen und über Messungen von Leitwertfluktuationen im Magnetfeld bei T∼30 mK berichtet. Beim Metallisieren der mittels Elektronenstrahllithographie hergestellten Nanometermasken wird besonderer Wert auf die Reinheit der erzeugten Strukturen gelegt. Auf mesoskopischer Längenskala sind die Drähte mit nur zwei Zuleitungen an die Leitwertmessung angeschlossen. Bei gleichbleibender lateraler Geometrie wird die Dicke der aufgedampften Schicht, damit der Flächenleitwert und der Leitwert des mesoskopischen Drahts variert. Wir vergleichen die rms-Amplitude der Leitwertfluktuationen in Abhängigkeit von der Schichtdicke mit theoretischen Vorhersagen und den Ergebnissen anderer Gruppen. Insbesondere wird der Beitrag der makroskopischen Zuleitungen zum Gesamtwiderstand und ihr Einfluß auf die Größe der Fluktuationen und auf ihr Korrelationsfeld diskutiert.