Bayreuth 1998 – scientific programme

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CP: Chemische Physik

CP 6: Elektrische und optische Eigenschaften von organischen Materialien

CP 6.17: Poster

Monday, March 9, 1998, 18:00–20:00, P1

AFM- und SNOM-Untersuchungen von polymeren Leuchtdioden — •H. Hänsel¹, M. Groß², D. Müller², G. Krausch¹, K. Meerholz² und C. Bräuchle² — ¹Institut für Physikalische Chemie, Ludwig-Maximilians-Universität München, Theresienstraße 39, D-80333 München — ²Institut für Physikalische Chemie, Ludwig-Maximilians-Universität München, Sophienstraße 11, D-80333 München

Ziel der Untersuchungen ist, die Lebensdauer-begrenzenden Prozesse beim Betrieb von polymeren Leuchtdioden auf lokaler Skala zu verstehen. Die aktive Schicht der untersuchten Dioden besteht aus einem mit TPD und Perylen dotierten PMMA-Film von ca. 100 nm Dicke. Mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) haben wir die Oberfläche der aktiven Schicht nach Tempern oberhalb der Glasübergangstemperatur untersucht. Sowohl an der freien Polymeroberfläche als auch an der Gold-Polymer-Grenzfläche der Kontaktelektrode beobachtet man eine Aufrauhung, die auf Aggregation des TPD zurückgeführt werden kann.
Mit einem nahfeldoptischen Rastermikroskop (SNOM) versuchen wir, die Elektroluminiszenz im Nahfeld zu untersuchen, was eine Charakterisierung der optischen Aktivität im Subwellenlängenbereich erlauben sollte.