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K: Kurzzeitphysik

K 8: Hochleistungs-/Impulssysteme, pulsformende Elemente und Schalter

K 8.3: Vortrag

Donnerstag, 12. März 1998, 10:30–10:45, H8

Spektroskopische Untersuchungen an Pseudofunkenentladungen mit SiC-Elektroden — •W. Weisser, V. Arsov, Ch. Bickes, U. Ernst, K. Frank, M. Iberler, J. Meier, U. Prucker, A. Rainer, M. Schlaug, J. Schwab, J. Urban und D.H.H. Hoffmann — Phys. Inst. I, Univ. Erlangen-Nürnberg, Erwin-Rommel-Str. 1, D-91058 Erlangen

Ab Strömen von einigen kA treten bei Pseudofunkenentladungen mit konventionellen Metallelektroden mikroskopische und makroskopische Kathodenflecken auf, die bei weiter ansteigenden Stromstärken zur Ausbildung eines kontrahierten Metalldampfbogens führen. Verwendet man im Gegensatz dazu Siliziumkarbidelektroden, bleibt die Entladung über die gesamte Stromflußdauer diffus und über eine wesentlich größere Elektrodenfläche verteilt.
Um diese interessante Eigenschaft von SiC-Elektroden physikalisch besser verstehen zu können, wurden spektral aufgelöste Untersuchungen an Entladungen mit SiC-Elektroden durchgeführt und mit solchen mit Metallelektroden verglichen.
Dazu wurde zunächst das Plasma mit Hilfe eines OMA-Systems im sichtbaren Spektralbereich spektroskopiert. Anschließend wurden Spektralbereiche starker Linienemission herangezogen, um mittels Interferenzfilter und Kurzzeitkamera spektral, orts- und zeitaufgelöste Untersuchungen zum Entladeverhalten durchzuführen.
gefördert durch BMBF FKZ 13N6803