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A: Atomphysik
A 6: Stöße II
A 6.3: Vortrag
Montag, 16. März 1998, 16:45–17:00, A703
Resonante Anregung von hochgeladenen Ionen an einer = Pt-Oberfläche — •N. Hatke1, M. Dirska1, E. Luderer1, A. Robin1, A. Närmann2, M. Grether3 und W. Heiland1 — 1Universität Osnabrück, D-49069 Osnabrück — 2Universidad del País Vasco, Apto. 1072, E-20080 San Sebastián — 3Hahn-Meitner-Institut, Glienicker Str. 100, D-14109 = Berlin
Das Channeling von hochgeladenen Ionen wurde aus zwei Gründen untersucht: die Abhängigkeit des Energieverlustes von der Elektronendichte in denKanälen eines Kristalls und die resonante kohärente Anregung (RCE) der Ionen. Im Fall des axialen Channelings hängen die Anregungsfrequenzenvon den Gitterabständen der Atome ab. Passiert ein Ion eine geordneteReihe von Atomen mit der Geschwindigkeit v, wirkt eine kohärenteperiodische Störung mit der Frequenz νr = k(v/d), mitk= 1, 2, 3, ..., und d (Abstand der Atome). Stimmt die Frequenz derAnregung mit der Energiedifferenz zweier elektronischen Zuständeüberein, kann eine resonante Anregung stattfinden. Diese führt zu einerhöheren Ionisationswahrscheinlichkeit. In unseren Experimentenbenutzten wir wasserstoffähnliche N6+ Ionen mit Energien von 21.8
bzw. 23 MeV und ein Pt(110) Kristall. Wir berichten von ersten Experimentenzur resonanten Anregungen von an Oberflächen gestreuten Ionen.