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Konstanz 1998 – scientific programme

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MS: Massenspektrometrie

MS 5: Beschleunigermassenspektrometrie

MS 5.4: Talk

Tuesday, March 17, 1998, 14:45–15:00, R611

Beschleuniger-SIMS: Spurenelementanalyse unterhalb des ppb-Bereichs. — •M. Döbeli1, R.M. Ender2, M. Suter2 und H.A. Synal11Paul Scherrer Institut c/o ETH-Hönggerberg, CH-8093 Zürich, Schweiz. — 2Institut für Teilchenphysik, ETH-Hönggerberg, CH-8093 Zürich, Schweiz.

Die SIMS-Nachweisgrenzen für Spurenelemente können in manchen Fällen bedeutend verbessert werden, wenn die Sekundärionen durch ein Beschleunigermassen-spektrometer (BMS) nachgewiesen werden. Das BMS garantiert die vollständige Zerstörung von Molekülionen und kann deshalb die Nachweisgrenze besonders im Falle von molekularen Interferenzen um Grössenordnungen verbessern. Zudem hat die Gasionisationskammer, die für die Detektion der beschleunigten Ionen verwendet wird, keine Dunkelpulse und erlaubt sogar die Identifikation von Isobaren.
Am PSI/ETH Tandem Beschleunigerlabor wurde ein kommerzielles SIMS Gerät an das existierende BMS gekoppelt. Die Leistungsfähigkeit des Instruments wurde charakterisiert und die Nachweisgrenzen für verschiedene wichtige Spurenelemente wurden bestimmt. Für die meisten Elemente liegen sie im niedrigen ppb Bereich oder darunter. Allgemeine Aspekte der Methode und ihre Möglichkeiten und Grenzen werden diskutiert. Gemessene Implantationsprofile, Rasterabbildung und Analysen von Standardproben werden vorgestellt.

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