Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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AKE: Arbeitskreis Energie der DPG

AKE 8: Postersitzung AKE

AKE 8.7: Poster

Dienstag, 24. März 1998, 12:00–13:00, H32

Charakterisierung von Dünnfilmsolarzellen mit der Röntgenfluoreszenzanalyse — •Markus Klenk — Uni Konstanz, LS Bucher, Fach X916, 78457 Konstanz

Die Stöchiometrie von Dünnfilmsolarzellen aus Verbindungs- halbleitern hat wesentlichen Einfluss auf die zu erwartenden Wirkungsgrade. Mit der Röentgenfluoreszenz ist es möglich gleichzeitig die Stöchiometrie und Schichtdicke von Dünnfilmsolarzellen zu be- stimmen. Das Verfahren ist genau, zerstörungsfrei und schnell. Die Solarzellen werden völlig durchstrahlt. Dies ermöglicht zum Einen die direkte Bestimmung der Massenbelegung der Elemente in der Absorberschicht, zum Anderen können gleichzeitig auch noch z.B. Rückkontakt und Fensterschicht analysiert werden.